Gelişmiş Arama

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.authorÖztürk H.
dc.date.accessioned2019-11-24T20:36:50Z
dc.date.available2019-11-24T20:36:50Z
dc.date.issued2007
dc.identifier.issn0019493X
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12513/2246
dc.description.abstractThe displacement field u› and the relative interfacial displacement field ?u› are investigated for the material formed by two isotropic media. When one of the media tends to infinity and the other one has the thickness of h, the displacement fields depend on this thickness. Applications are presented for the CoSi2/Si(111) heterosystem and also for the homogeneous system Cu/Cu(111).en_US
dc.language.isoengen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/closedAccessen_US
dc.titleFree surface effect on displacement and relative interfacial displacement fields of misfit dislocations at the bicrystal interfaceen_US
dc.typearticleen_US
dc.relation.journalTransactions of the Indian Institute of Metalsen_US
dc.contributor.departmentKırşehir Ahi Evran Üniversitesi, Fen-Edebiyat Fakültesi, Fizik Bölümüen_US
dc.identifier.volume60en_US
dc.identifier.issue6en_US
dc.identifier.startpage577en_US
dc.identifier.endpage580en_US
dc.relation.publicationcategoryMakale - Uluslararası Hakemli Dergi - Kurum Öğretim Elemanıen_US


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster